15 დეკემბერს, 11:00 სთ, საქართველოს ტექნიკური უნივერსიტეტის სტრუქტურულ კვლევათა რესპუბლიკურ ცენტრში (I კორპუსი, აუდ. #725ბ) შედგება მასკანირებელი ელექტრონული მიკროსკოპის საჯარო პრეზენტაცია. აპარატის შეძენა შესაძლებელი გახდა შოთა რუსთაველის ეროვნული სამეცნიერო ფონდის მიერ გამოცხადებულ კონკურსში „თანამედროვე სამეცნიერო-კვლევითი აპარატურის შესაძენად" გამარჯვების შედეგად.
მიკროსკოპი წარმოადგენს იაპონური კომპანია JEOL-ის JSM -6510 /LV/LA თანამდეროვე ანალიტიურ მოდელს, რომლის მაქსიმალური გარჩევისუნარიანობა 3 ნანომეტრია. მიკროსკოპი აღჭურვილია მეორადი და უკუარეკვლილი ელექტრონების დეტექტორებით. ენერგოდისპერსიული რენტგენო-სპექტრალური მიკროანალიზატორი (ედრსმ) ელემენტების დეტექტირების საშუალებას იძლევა Be-Cf-ის ინტერვალში. დაბალი ვაკუუმის რეჟიმის გამოყენებით შესაძლებელია ბიოლოგიური ნიმუშების შესწავლაც. მისი მაღალი გარჩევისუნარიანობა და ელემენტების თითქმის მთელი სპექტრის ანალიზი მნიშვნელოვნად ზრდის მიკროსკოპის გამოყენების არეალს. აღნიშნული მიკროსკოპი თავისი მონაცემებით უნიკალურია საქართველოს მასშტაბით.
